Wee, Andrew T. S. | Tang, Chi Sin. | Yin, Xinmao

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications

2022 - John Wiley et Sons Ltd.

E-book EPUB

Pris en charge uniquement par Torrossa Reader (voir détails)

Wee, Andrew T. S. | Tang, Chi Sin. | Yin, Xinmao

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications

2022 - John Wiley et Sons Ltd.

438142 characters.

Informations
ISBN: 9783527833955

Permalink: http://digital.casalini.it/9783527833955
DISCIPLINES
- Ingénierie et activités connexes
- Engineering, Civil Engineering

EUR 93,99

TVA exclue

EPUB

Voir les conditions d’utilisation

Download

Copier coller

Impression

Espace de travail