Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy

2011 - John Wiley et Sons Ltd.

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Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy

2011 - John Wiley et Sons Ltd.

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Información
ISBN: 9781119979906

Permalink: http://digital.casalini.it/9781119979906

COLECCIÓN

RMS - Royal Microscopical Society
MATERIAS
- Física. Luz y fenómenos infrarroja y ultravioleta
- Physics

EUR 57,56

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