Servin, Manuel | Padilla, Moises | Quiroga, J. Antonio Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications 2014 - John Wiley et Sons Ltd. Erlaubte Funktionen Download Kopieren Einfügen Drucken Französische Versdichtung EUR 131,59 MwSt ausgenomen Kaufen EPUB eB eBook